ensl
IJS – Odsek za anorgansko kemijo in tehnologijo
Oprema

Rentgenski difraktometerMonokristalni rentgenski difraktometer

Agilent Gemini

 

Monokristalni difraktometer Agilent Gemini je sodobna naprava za določitev kristalne strukture. Difraktometer ima zelo natančen kappa-goniometer, visoko občutljiv CCD detektor ter dva vira rentgenskega sevanja – molibdenov in bakrov. Molibdenovo sevanje omogoča hitro zbiranje podatkov z visoko ločljivostjo, bakrov vir pa je bistven za določanje struktur spojin z visoko vsebnostjo lahkih atomov. Hladilni sistem omogoča meritve pri temperaturah od 100 do 300 K.

Odgovorna oseba: doc. dr. Evgeny Goreshink

 

Ramanski spektrometer visoke ločljivosti Labram HRRamanski spektrometer visoke ločljivosti

Labram HR

 

Ramanski spektrometer visoke ločljivosti Labram HR proizvajalca Horiba je opremljen z mikroskopom in avtomatizirano menjavo vzbujevalnih laserskih žarkov pri 633 nm in 532 nm.

Odgovorna oseba: dr. Melita Tramšek

 

 

 

Praškovni difraktometer Italstruktures 3000Praškovni difraktometer

Italstruktures 3000

Praškovni difraktometer Italstruktures 3000 je naprava za meritve praškovne difrakcije rentgenskih žarkov. Velik in občutliv »image plate« detektor omogoča hitre meritve. Snemanje je možno z uporabo vzorcev na ravnem nosilcu ali v kapilari. Skaner omogoča branje podatkov s detektorja ter jih prenos na računalnik.

Odgovorna oseba: doc. dr. Evgeny Goreshink

 

 

 

Elementni analizator CHNSOElementni analizator CHNSO

Elementar – Vario EL CUBE

Vrsta analiz: določanje CHNS/ CNS/ CHN/ CN/ N ali S elementne sestave. Na voljo je tudi opcija za določanje O.

 

Specifikacije:

Detektor: na osnovi toplotne prevodnosti (TCD) oziroma IR detektor za določanje S oz. O

Masa vzorca: cca. < 1 do 50 mg organskega v vzorca, 600 mg zemlje; odvisno od vrste vzorca

Dinamično delovno območje za CHNS/CHN:

C: 0–40 mg (ali 100 % rel.)

N: 0–15 mg (ali 100 % rel.)

H: 0–3 mg (ali 100 % rel.)

S: 0–6 mg (ali 100 % rel. s TCD detektorjem) oz. 0,0005–0,6 mg z IR detektorjem

O: 0–6 m

Natančnost: ≤ 0,1 % abs.; pri določanji acetanilida oziroma sulfanilne kisline

Odgovorna oseba: doc. dr. Maja Ponikvar-Svet

 

Aparat za merjenje površineAparat za merjenje površine

Gemini VII 2390t instrument (Micromeritics) in VacPrep 061 postaja za rpipravo vzorcev (Micromeritics)

Dušikova fizisorpcija pri temperaturi tekočega N2

Določanje poroznosti in specifične površine

Odgovorna oseba: doc. dr. Tomaž Skapin

 

 

 

 

FT-IR SprektrofotometerFT-IR Sprektrofotometer

Perkin elmer – FT-IR Spectrum GX

Spectrum GX FTIR spectrometer (PerkinElmer) je opremljen z  Model 300 fotoakustičnim (PA) detektorjem (MTEC); NIR/MIR območje 10.000-400 cm-1, FIR območje 720-30 cm-1; PA dektekotor območje 10.000-400 cm-1

Odgovorna oseba: doc. dr. Tomaž Skapin